ВИКОРИСТАННЯ СТАТИСТИЧНИХ МЕТОДІВ ПРИ СЕРТИФІКАЦІЙНИХ ВИПРОБУВАННЯХ ІНТЕГРОВАНИХ МІКРОСХЕМ
Анотація
Проведено аналіз видів випробувань інтегрованих мікросхем та існуючих планів їх контролю. Вибрано показники надійності та плани контролю для включення у програму сертифікаційних випробувань. Запропоновано адекватні процедури статистичної обробки результатів випробувань.
Повний текст:
PDF
Адреса редакції журналу:
Редакція журналу «РІУ», Запорізький національний технічний університет,
вул. Жуковського, 64, м. Запоріжжя, 69063, Україна.
Телефон: 0 (61) 769-82-96 – редакційно-видавничий відділ
E-mail: rvv@zntu.edu.ua
При повному або частковому використаннi матерiалiв посилання на журнал є обов’язковим.